发布时间：2018-10-25 来源：
全自动智能荧光正置显微镜
荧光正置显微镜光学设计上采用先进的HC无限远轴向、径向双重色差校正光学技术，消除杂散光等干扰因素，实现图像分辨率和反差的优化，得到锐利图像的同时追求高分辨率。用于观察普通染色、荧光标记的切片.
/
返回列表页
关闭窗口
打印本页